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四探針方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國標(biāo)設(shè)計(jì)制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

高絕緣電阻率測試儀高性能全功能超高阻、微電流綜合測量儀表，除了覆蓋LST-121的全部功能與用途外，其他特點(diǎn)與用途見上述專題介紹。

四探針方阻儀 方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.

LST-331四探針方阻電阻率測試儀采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國標(biāo)設(shè)計(jì)制造；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

絕緣材料表面體積電阻率測試儀LST-121超高測量范圍，量程達(dá)到0-2×1018Ω，取代指針式高阻計(jì)的*佳儀表。 LST-122 絕緣材料體積電阻和表面電阻率測定儀高性能全功能超高阻、微電流綜合測量儀表，除了覆蓋LST-121的全部功能與用途外，

LST系列高絕緣電阻率測試儀 絕緣材料體積電阻和表面電阻率測定儀高性能全功能超高阻、微電流綜合測量儀表，除了覆蓋LST-121的全部功能與用途外，其他特點(diǎn)與用途見上述專題介紹。

電流測量范圍為2×10-4 ～1×10-16Ａ。機(jī)內(nèi)測試電壓10V/50V/100V/250V/500V/1000V任意可調(diào)。體積具有精度高、顯示迅速、性好穩(wěn)定、讀數(shù)方便. 體積表面體積電阻率測試儀適用于橡膠、塑料、薄膜、地毯、織物及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測定。

絕緣電阻率測定儀符合國家標(biāo)準(zhǔn)GB1410－2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法，ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求。本儀器配不同的測量電極（夾具）可以測量不同材料（固體、粉體或液體）的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率。適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測定。